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一种功能强大的干涉图形攫取和分析的一套软件
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产地:Athens 发行时间:未知 最新版本:未知
厂商:IntelliWave, LLC
分类:其他 | 
应用领域: 干涉图形攫取和分析
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INTELLIWAVE LE2
(c) 2001
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IntelliWave™ allows for the characterization of spherical optics, aspheric optics, machined parts, ceramics, semiconductor wafers, and analysis of optical wavefronts. Applications include measuring, flatness, irregularity, roughness, parallelism, curvature, stress, and strain. In addition to running on ESDI Intellium™ Interferometers, IntelliWave&...
IntelliWave总体介绍 2012/4/5
IntelliWave 中文简介 2009/6/3
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IntelliWave特点 2012/4/5
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IntelliWave Feature Summary 2009/6/3
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Intelliwave 应用的领域 2009/6/3
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IntelliWave官网 采摘:zhengling 2012/4/5
IntelliWave? allows for the characterization of spherical optics, aspheric optics, machined parts, ceramics, semiconductor wafers, and analysis of optical wavefronts. Applications include measuring, flatness, irregularity, ro...
IntelliWave Examples 采摘:luckly 2009/6/3
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